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Products新聞中心/ NEWS
晶圓測試設備是用于半導體生產過程中對硅晶圓進行電氣性能測試的工具。它通過對晶圓上各個芯片的測試，檢測其電氣特性、工作性能以及潛在的缺陷。晶圓測試不僅可以提高生產效率，還能確保生產出的芯片達到標準，降低后續封裝過程中的不良品率。晶圓尺寸是晶圓測試設備的一個重要指標，它決定了設備能夠處理的晶圓的大小以及其測試區域的覆蓋范圍。不同尺寸的晶圓對應著不同的設備設計和測試工藝。晶圓尺寸越大，測試設備的構造就需...
2016-02-26
2016-02-15
2016-01-26
2016-01-21
2015-12-28
2015-12-25
2015-12-18
2015-11-30
2015-10-27
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2015-09-28
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2015-08-27
2015-07-20
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